АНАЛИТИЧЕСКИЙ ГОДОВОЙ ОТЧЕТРоссийские ученые разработали метки для контроля качества хранения и перевозки продуктов. 
Это инновационное изобретение ученые из Инжинирингового центра НИЯУ МИФИ презентуют на выставке ВУЗПРОМЭКСПО, которая пройдет 2-4 декабря в Технополисе «Москва».
Инжиниринговый центр НИЯУ МИФИ продемонстрирует проект BlackBeeTrack, который поможет сократить количество испорченных товаров на полках магазинов. Экспонат представляет собой миниатюрные метки, оснащенные датчиками температуры, влажности и сенсором падений. Метки кладутся в тару с товаром и на всем пути транспортировки измеряют соответствующие параметры окружающей среды. После доставки товаров в магазин или на склад сотрудник может, не открывая коробки, с помощью обычного смартфона считать показания с меток и узнать, есть ли среди груза испорченные товары. Все данные о температурных воздействиях, изменениях влажности и падениях, будут отображаться в мобильном приложении BlackBeeTrack.
На выставке ВУЗПРОМЭКСПО также будет представлен российский аппаратно-программный комплекс для защиты промышленных автоматизированных систем от информационных атак под названием «ЩИТ». Его главной особенностью разработчики называют абсолютную защищенность данных в автоматизированных системах и невозможность перехвата управления злоумышленниками, что может привести к серьезным авариям на промышленных объектах (также разработка Инжинирингового центра НИЯУ МИФИ).
ВУЗПРОМЭКСПО — это крупнейшая федеральная выставка технических и технологических достижений науки и их коммерческого потенциала для импортозамещения. В 2015 году состоится уже третья выставка, которая станет площадкой для взаимодействия самых ярких представителей российской науки и крупнейших предприятий страны.
Источник: http://www.sdelanounas.ru/blogs/70926/